夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法

對(duì)于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）、缺口對(duì)稱面-試樣縱軸角度（標(biāo)準(zhǔn)要求90°±2°）等，故在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問(wèn)題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口底部半徑微小變化（其公差只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的偏差，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)測(cè)量檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中對(duì)夏比沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。

夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法